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光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù)，主要用于精確測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率，測量精度可達百萬分之一量級！
光腔衰蕩光譜方法通過對指數(shù)型的腔內(nèi)衰蕩信號的檢測，擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。
應(yīng)用領(lǐng)域：
高反射鍍膜層損耗的精密測量
正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學(xué)元件的損耗測量
精度dR/R<2ppm r="">99.5%
檢測用激光波長可選（如≥355nm…532nm…633nm…1064nm…≤1319nm）
測量原理：
脈沖光或快速開關(guān)的連續(xù)光耦合進諧振腔
待測膜層在每次往返光程中經(jīng)反射產(chǎn)生損耗
時間相關(guān)的輸出信號的精確測量得到衰蕩數(shù)據(jù)
脈沖光往返時間已知，根據(jù)衰蕩的時間特點，得到反射率
技術(shù)指標：
測量反射率： R>>99%
精度： dR/R < 2ppm @ R>99.5%
樣品/基底要求*： ?1"Or 0.5", 厚度~6mm
基底透明，后表面平面拋光
*0o正入射測量，其他要求可訂制。
供電電源：
激光器 100~240VAC, 50~60Hz
探測器 +/-9 VDC
接口： USB 2.0
含數(shù)據(jù)采集， A-D轉(zhuǎn)換，數(shù)據(jù)處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產(chǎn)數(shù)據(jù)錄入及處理等。
光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
